熒光光譜測厚儀性能優勢操作技術是一款設計結構緊湊,模塊精密化程度極高的鍍層測厚儀,采用了下照式C型腔體設計,不但可以測量各種微小樣品,即使大型超出樣品腔尺寸的工件也可測量,是一款測量涂鍍層成分及厚度性價比高、適用性強的機型。
熒光光譜測厚儀操作技術是一款設計結構緊湊,模塊精密化程度極高的鍍層測厚儀,采用了下照式C型腔體設計,不但可以測量各種微小樣品,即使大型超出樣品腔尺寸的工件也可測量,是一款測量涂鍍層成分及厚度性價比高、適用性強的機型。
熒光光譜測厚儀廠家是一款設計結構緊湊,模塊精密化程度極高的鍍層測厚儀,采用了下照式C型腔體設計,不但可以測量各種微小樣品,即使大型超出樣品腔尺寸的工件也可測量,是一款測量涂鍍層成分及厚度性價比高、適用性強的機型。
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